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    以分子力學模擬原子力顯微鏡量測與預測真實截面形貌之研究
    • 機械工程系 /93/ 碩士
    • 研究生: 曾柏展 指導教授:
    • 本研究以二體勢能函數建立一套接觸式原子力顯微鏡定力模式之模擬奈米級量測模型。模擬方法為當探針Tip經過試片表面,利用Morse勢能計算出試片原子對探針Tip原子之受力,經由計算得出對探針懸臂之等效力…
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    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)
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    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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